Sveipeelektronmikroskopi, type elektronmikroskopi hvor en elektronstråle sveiper over overflaten av preparatet som er dekket med en metallfilm. Når elektronene treffer overflaten, avbøyes de eller gir opphav til sekundærstråling. En detektor fanger opp de avbøyde elektronene eller sekundærstrålingen og omdanner dette til elektriske signaler. Signalene sendes til et katoderør der katodestrålen sveiper over skjermen i takt med elektronstrålen, men med større utslag (hvilket gir forstørrelse). Intensiteten på katodestrålen varierer i takt med signalet som fanges opp av detektoren, noe som igjen reflekterer overflategeometrien til preparatet. SEM-bilder svarer på mange måter til opptak og avbildning gjennom fjernsyn. De er lettere å tolke enn vanlige elektronmikroskopiske (transmisjonselektronmikroskopiske) bilder fordi de viser overflaten av strukturene, altså slik vi er vant til å se dem, jfr. forskjellen mellom et vanlig fotografi og et røntgenbilde av en hånd.

Foreslå endring

Kommentarer

Har du spørsmål til artikkelen? Skriv her, så får du svar fra fagansvarlig eller redaktør.

Du må være logget inn for å kommentere.